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Inspección premium con nanofoco y microfoco para electrónica.
Phoenix Microme|x Neo y Nanome|x Neo proporcionan tecnología de escaneo de rayos X 2D de alta resolución, PlanarCT y tomografía computarizada (TC) 3D en un solo sistema.
Inspección por TC de alta energía de 9 MeV: escanee fácilmente piezas grandes y complejas.
Cada día, los constantes avances en la fabricación industrial plantean nuevos desafíos que van más allá del ámbito de la inspección tradicional. Con las demandas tecnológicas globales de mayor productividad y las regulaciones cada vez más estrictas que requieren la máxima precisión para ofrecer niveles óptimos de calidad y seguridad, sus tecnologías de inspección deben evolucionar para estar a la altura de las exigencias.
Sistema de inspección por rayos X y TC en tiempo real
Soluciones de rayos X 2D para las industrias automotriz y aeroespacial.
La última generación de la serie X|cube de Waygate Technologies es más rápida, más flexible y más fácil de usar que las generaciones anteriores.